苏州千宇光学科技有限公司是致力于光学仪器科技研究与服务的一家的科技型公司，公司主要的经营范围为光学材料、电子科技、软件科技领域内的技术开发、咨询、服务与转让；同时支持光电产品、半导体材料、仪器仪表、自动化设备、计算机设备、等货物及技术的进出口业务，苏州日本大冢配向角测量仪。PLM系列是我们精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪，苏州日本大冢配向角测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度，苏州日本大冢配向角测量仪、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。配向角测试仪的数据输出：电脑连接。苏州日本大冢配向角测量仪
近年来，液晶显示装置作为显示文字、图像等的显示装置而被*** 利用。这样的液晶显示装置通常包括2片偏振片和设置于其间的液晶单 元，该液晶单元由玻璃基板、透明电极、滤色器、定向膜、液晶等构成。
一般来说，液晶显示装置中使用的偏振片是介由粘合剂层在偏振膜 （起偏振器）的单面或双面贴合三乙酸纤维素（以下，也称为TAC）系 膜等的保护膜而成的，所述偏振膜是在拉伸定向的聚乙烯醇（以下，也 称为PVA）系片上吸附有碘或二色性染料而得的。
作为这样的偏振片，提出了具有以下特征的偏振片：在介由聚乙烯 醇系粘合剂层在聚乙烯醇系偏振膜的至少单面贴合有保护膜的偏振片 中，粘合剂层由含有水溶性环氧化合物的聚乙烯醇系粘合剂构成，粘合 剂中的水溶性环氧化合物与聚乙烯醇系树脂的比为（5 ~ 50 ） /100 （固 体成分重量比） 苏州日本大冢配向角测量仪选配测试功能：1.相位差延迟量、椭偏率、配向角 2.色度、多波段测试(380nm~780nm）、偏光度 。
起偏振片保护膜用于保护偏振片(polarizing film)。在偏振片的两面提供 起偏振片保护膜以形成起偏振片。至今，通过光学补偿膜改善液晶显示器 的显示质量，该光学补偿膜是具有光学延迟膜的视角补偿膜。最近，光学 延迟膜的功能已被加入到起偏振片保护膜中。结果，起偏振片保护膜成为 多功能的，这导致部件的减少。
对于液晶显示器的显示质量，视角的补偿被改善。通过在扭曲向列(TN) 型液晶元件的两面提供盘状(discotic)液晶膜来改善液晶元件的视角特性
一种液晶显示器，所述液晶显示器具有两个起偏振片和一个 位于这两个起偏振片之间的液晶元件，其中所述起偏振片包括两个透 明保护薄膜和一个位于这两个保护薄膜之间的起偏振膜片，并且其中 位于液晶元件和起偏振膜片之间的这两个保护薄膜中至少一个是一 光学补偿薄片，所述光学补偿薄片依次包括纤维素酯薄膜、取向层和 由液晶分子形成的光学各向异性层，所述液晶分子的排列经固定，其 中将一碱性溶液涂布到纤维素酯薄膜的表面上以将该表面皂化，并且 其中皂化的表面涂布有取向层的涂布液。测量波段：550nm单波段可升级为380nm~780nm 上料方式：手动上料。
光学各向异性纤维素酯薄膜优选具有_50至50 ran,更优选-20至 20 nm的Re延迟值。
各向异性纤维素酯薄膜的Rth延迟值优选是60-1,000 nm。
平面内的延迟值(Re)是平面内的双折射和薄膜厚度的乘积，并且 沿厚度的延迟值(Rth)是厚度方向的双折射与薄膜厚度的乘积。具体的 Re值可以通过将入射光(例如，从He-Ne激光器[波长：632.8 nm]发 出的光线)垂直施加到薄膜表面上的测定获得，并且具体的Rth值可 以通过入射光(例如，从He-Ne激光器[波长：632.8 nm]发出的光线) 倾斜施加到薄膜表面上的测定获得。在该测定中，使用偏振光椭圆率 测量仪(例如，M-150, JASCO公司)获得数据，然后外推得到这些延 迟值。
分别根据下式(1)和(2)计算平面内(Re)和沿厚度(Rth)的延迟值。
(1) Re = (nx-ny) x d
(2) Rth = [{(nx+ny)/2}-nz] x d。
在这些式中，nx是沿薄膜平面的慢轴的折光率，ny是沿薄膜平 面的快轴的折光率，nz是薄膜厚度方向的折光率，并且d是以nm计 的薄膜厚度。
测量波段可根据客户要求定制波段。苏州日本大冢配向角测量仪
测量波段：550nm单波段，上料方式：手动上料。苏州日本大冢配向角测量仪
偏光片(Polarizing Film)的全称应该是偏振光片。液晶显示器的成像必须依靠偏振光。偏光片的主要作用就是使不具偏极性的自然光变成产生偏极化，转变成偏极光，加上液晶分子扭转特性，达到控制光线的通过与否，从而提高透光率和视角范围，形成防眩等功能。
偏光片可广泛应用于现代的液晶显示产品：液晶电视、笔记本电脑、手机、PDA、电子词典、MP3、仪器仪表、投影仪等，也可用于时尚偏光眼镜。其中，LCD的应用是拉动偏光片产业发展的主要力量。 苏州日本大冢配向角测量仪
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